高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
♦GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

♦GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

♦GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

♦GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

♦GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化 ♦GJB150.3-86 軍用設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 高溫沖擊試驗(yàn)  

♦GJB150.4-86 軍用設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 低溫沖擊試驗(yàn)   

♦GJB150.5-86 軍用設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)

♦GJB360.7-87 電子機(jī)電氣元件試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)